智能絕緣電阻測(cè)試儀PI/DAR指標(biāo)含義及測(cè)試方法
電力設(shè)備絕緣性能是保障輸變配電系統(tǒng)安全穩(wěn)定運(yùn)行的核心基礎(chǔ),絕緣受潮、老化、破損引發(fā)的設(shè)備故障,是導(dǎo)致電網(wǎng)非計(jì)劃停運(yùn)的主要誘因之一。在常規(guī)絕緣檢測(cè)工作中,多數(shù)運(yùn)維人員僅依靠單次絕緣電阻數(shù)值判定設(shè)備絕緣狀態(tài),忽略極化指數(shù)(PI)、介質(zhì)吸收比(DAR)兩項(xiàng)關(guān)鍵特征指標(biāo),極易造成早期隱性絕緣隱患漏判、誤判。相較于瞬時(shí)絕緣電阻值,PI、DAR指標(biāo)可有效規(guī)避設(shè)備容性電流、表面泄漏電流的干擾,精準(zhǔn)反映設(shè)備內(nèi)部絕緣老化、受潮缺陷。
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